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场发射电子探针(JXA-8530F PLUS)
发布日期:2018-07-02 作者: 浏览次数:

      场发射电子探针能够对微小区域所含元素进行定性或定量分析,元素分析种类遍布Be~U,包含点成分分析,线成分分析以及面成分分析,并且能够用二次电子或背散射电子进行形貌观察。
      安置地点:山东大学千佛山校区 创新大厦109房间